EINLADUNG TECHNOLOGIE- UND ANWENDERKONGRESS ACADEMIC FORUM Oktober 2015 Fürstenfeldbruck bei München

EINLADUNG TECHNOLOGIE- UND ANWENDERKONGRESS ACADEMIC FORUM 21. – 23. Oktober 2015 | Fürstenfeldbruck bei München

Inhalt | 3

Was Sie auf dem VIP 2015 erwartet MITTWOCH

21. Oktober 2015

9:30 – 11:00

Begrüßung: Michael Dams, Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, National Instruments Keynote:

11:30 – 18:00 LabVIEW Power

Programming

Test & Measurement

Verification & Validation

Daten­management

Semiconductor Test

Workshops

Get-together mit anschließender Jubiläumsparty

ab 18:00

DONNERSTAG

9:00 – 10:00

22. Oktober 2015

Keynote:

Eric Starkloff, Executive Vice President, Global Sales and Marketing, National Instruments Volker Bibelhausen, Vice President Factory Automation, Bosch Rexroth AG

10:30 – 17:00 LabVIEW Power

Programming

Test & Measurement

Business Trends

Workshops

Verification & Validation

Embedded Control & Monitoring

Ende Tag 2

17:00

FREITAG

Embedded Control & Monitoring

23. Oktober 2015

9:00 – 10:30

Keynote:

Dave Wilson, Academic Marketing Director, National Instruments

11:00 – 17:00 Praxisorientierte Lehre 17:00

Forschung und Laborversuche

Ende des Academic Forums

INHALT

04

05 – 10

10

11

14

15

KEYNOTES

WORKSHOPS

12 – 13

Workshops

ACADEMIC FORUM

SPECIALS

VORTRAGSREIHEN

AUSSTELLUNG

ANMELDUNG | SERVICES

4 | Keynotes

Keynotes BEGRÜSSUNG: MICHAEL DAMS Director Sales Central and Eastern Europe, National Instruments

MITTWOCH

DONNERSTAG

DONNERSTAG

FREITAG

Rahman Jamal

Eric Starkloff

Volker Bibelhausen

Dave Wilson

Global Technology &

Executive Vice President,

Vice President

Academic Marketing Director

Marketing Director

Global Sales and

Factory Automation

National Instruments

National Instruments

Marketing

Bosch Rexroth AG

National Instruments

You and NI – heute und in Zukunft

Vernetzung, Digitalisierung, Indu­

Die Zukunft gestalten

gemeinsam das Internet der Dinge

strie 4.0 – die Welt ändert sich.

Anknüpfend an den Vortrag von

gestalten

Viele Unternehmen haben die Schal-

Volker Bibelhausen geht es am Freitag

Neue Technologien, Megatrends und

ter umgelegt und bereiten sich auf

um einen wesentlichen Bestandteil

den plattformbasierte Ansatz des

die Zukunft der Produktion vor. Dabei

des Internet der Dinge: die Menschen

Graphical System Designs präsen-

gibt es zwei Blickrichtungen: Die

hinter den Technologien. Viele dieser

tieren wir Ihnen zum Beginn des

ersten Anwender sammeln konkrete

Technologien werden maßgeblich von

VIP-Kongresses im Minutentakt. Das

Erfahrungen in Pilotprojekten. Die

heutigen Studenten entwickelt und

IoT (Internet of Things) im kommerzi-

Automationshersteller wiederum

angewendet. Diese Keynote beschäf-

ellen (CIoT) und im industriellen (IIoT)

brüten über Lösungen und Produkte

tigt sich deshalb mit dem Thema

Umfeld, die nächste Generation der

für vernetzte und selbststeuerende

Ausbildung und Lehre in Zeiten des

Mobilfunkkommunikation (5G) und

Wertschöpfungs­ketten. Bosch ist

IoT und mit dem Übergang zur For-

Big Analog Data bilden dabei einige

in beiden Feldern aktiv. Ob und wie

schung an aktuellen und zukünftigen

der Schwerpunkte. Demonstrationen

der Wandel gelingt, wird wesentlich

Trends mithilfe des Graphical System

anhand erfolgreicher Kundenlösun-

von der Lernfähigkeit der Menschen

Designs.

gen, neue Produkte, Systeme und

abhängen, denn sie müssen vonei-

Technologien, die das leistungsstarke

nander und – wichtiger noch – mit-

NI-Portfolio erweitern, werden hier im

einander lernen. Wie neues Wissen

praktischen Einsatz gezeigt. Bran-

entsteht, in Zukunft Nutzen bringt und

chenexperten erläutern die Chancen

zudem verfügbar gemacht werden

und Herausforderungen, die diese

kann, skizziert dieser Vortrag.

Megatrends in den wichtigsten Anwendungsbereichen von Mess-, Prüfund Embedded-Systemen heute und künftig mit sich bringen werden.

MITTWOCH

9:30 – 11:00 Uhr

DONNERSTAG

9:00 – 10:00 Uhr

FREITAG

9:00 – 10:30 Uhr

Vortragsreihen | 5

LabVIEW Power Programming Die Vortragsreihe zum LabVIEW Power Programming zeigt

wir Ihnen eine große Bandbreite der Möglichkeiten in Lab-

dieses Jahr, wie vielseitig die Entwicklungsumgebung

VIEW. Dies wird untermauert durch praktische Lösungen

ist. Erfahrene Anwender und NI-Experten stellen Ihnen in

aus verschiedenen Anwendungsbereichen.

verschiedenen Vorträgen Programmiertechniken, Features und Lösungen vor. Angefangen bei allgemeinen Tipps und

Nutzen Sie auch unsere etablierte „Meet the LabVIEW Ex-

Tricks zu LabVIEW über 3D-Darstellungsmethoden und

pert”-Session, um unseren LabVIEW-Experten Ihre Fragen

Visualisierung im Web bis hin zu stark abstrahierenden

zu stellen, aktuelle Herausforderungen zu diskutieren oder

Architekturen wie OOP und dem Akteur-Framework zeigen

sich über Neuerungen auszutauschen.

MITTWOCH

11:30 – 18:00 Uhr

DONNERSTAG

10:30 – 17:00 Uhr

11:30 – 12:15 Effizient entwickeln mit LabVIEW – Tipps & Tricks National Instruments

10:30 – 11:15 Speed up your programming – Quick Drop Phillipp Hohl, ifm syntron GmbH Lorenz Casper, National Instruments

12:15 – 13:00 3D-Darstellung von Magnetfeldvektoren mit dem LabVIEW 3D-Bild Tobias Starz, Hartmann-exact KG

11:15 – 12:00 POLARIS Vision: Ein Beispiel für die Erstellung flexibler, wiederverwendbarer Bibliotheken durch Einsatz von LVOOP, XControl und Variantdatentyp Alexander Kessler, Friedrich-Schiller-Universität Jena

13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 Erweitern sie Ihre Kenntnisse um die LabVIEW RIO Architektur National Instruments 15:15 – 16:00 Projektphasenübergreifender Einsatz von NI Requirements Gateway Tobias Hamberger, MircoNova AG 16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 17:15 LabVIEW Framework als Prüfstandsplattform Lukas Suttner, ista international GmbH

MITTWOCH

Meet the Experts

17:15 – 18:00 Meet the LabVIEW Experts National Instruments and Friends

12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 14:15 LabVIEW und GOOP: Eine Alternative zu herkömmlichen objektorientierten Programmiersprachen schaffen Christian Geistberger, Linz Center of Mechatronics GmbH 14:15 – 15:00 Actor Framework – Usage of abstract messages Oliver Wachno, Bürkert Fluid Control Systems 15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 16:15 Web Applikationen auf Basis von LabVIEW erstellen National Instruments 16:15 – 17:00 Erste Schritte bei der Erstellung von Embedded Systemen mit LabVIEW National Instruments

6 | Vortragsreihen

Test & Measurement In einer Welt, in der eine Technologie bereits von der nächs-

In Anwender- und Technologievorträgen aus Forschung und

ten überholt wird, bevor die erste überhaupt den Markt

Industrie wird gezeigt, wie einfach sich Mess- und Automa-

erschöpft hat, müssen Prüfstände und Tests bereits in der

tisierungs- sowie RF-Systeme den wechselnden Anforde-

Entwicklungsphase und vor Erstellung der ersten Prototypen

rungen anpassen lassen. Der zweite Tag ist dem Schwer­

eingesetzt werden, um den gesamten Prozess zu optimie-

punkt RF & Wireless gewidmet und steht unter dem

ren. Hohe Flexibilität, Skalierbarkeit und Leistungsfähigkeit

Motto „Test Todays’s Standards. Design Tomorrow’s”.

eines Systems sind die beste Voraussetzung, um schneller, kostensparender und erfolgreich ans Ziel zu gelangen.

MITTWOCH

11:30 – 18:00 Uhr

DONNERSTAG

10:30 – 17:00 Uhr

11:30 – 12:15 Hochflexibler Antriebsprüfstand einer Erntemaschine mit PXI Real-Time und TestMaster Dr. Gerd Schmitz, S.E.A. Datentechnik GmbH Clemens Hortmann, CLAAS Selbstfahrende Erntemaschinen GmbH

10:30 – 11:15 Effizientes Testen von Wireless-Standards (Cellular, WLAN, BT, GNSS) für Automotive und mobile Geräte Dr. Tim Hentschel, National Instruments Manuel Bogedain, NOFFZ Technologies

12:15 – 13:00 Produktiver entwickeln mit softwaredesignten Messgeräten National Instruments

11:15 – 12:00 Paralleltest von LTE-NAD-Modulen mit NI Wireless Test System Markus Solbach, NOFFZ Technologies Enrique Gutierrez, peiker acustic GmbH & Co. KG

13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 Best Practices für verteilte Systeme zur Datenerfassung National Instruments 15:15 – 16:00 Vereinfachte Integration piezoelektrischer Sensoren in NI CompactRIO – Beispiele aus der Praxis Martin Stierli, Kistler Instrumente AG Sascha Kamps, WZL RWTH Aachen

12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 14:15 LabVIEW Communications: Die Revolution im Rapid Prototyping National Instruments 14:15 – 15:00 Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs Thomas Kraus, Stefan Sailer, Universität der Bundeswehr München

16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung

16:30 – 17:15 Einsatz von NI TestStand als standardisiertes Testwerkzeug – drei Beispiele für angepasste UIs, Prozessmodelle und Schritttypen National Instruments

15:30 – 16:15 Kombinierte Analyse und breitbandige Aufzeichnung von komplexen ELINT-Signalen Jens Keute, Elettronica GmbH

17:15 – 18:00 LabVIEW Meets FDA – Softwareentwicklung zum Test medizintechnischer Geräte Laurent Chatard, Domenico Labella Konrad Technologies GmbH

16:15 – 17:00 EOL-RF- und Display-Test an Car-SharingModulen Herbert Berger, Periscope GmbH Manuel Bogedain, NOFFZ Technologies

Vortragsreihen | 7

Verification & Validation In Zeiten des Internet of Things stellt die stetig wachsende

Diese Vortragsreihe bietet den Teilnehmern Praxisvorträge

Komplexität und Leistungsfähigkeit von Systemen auch im-

rund um das Thema Validierung & Verifizierung von Syste-

mer höhere Anforderungen an Testsysteme, Anwendungs-

men – von der Anforderungsdefinition über XIL-Tests in der

entwicklung und Werkzeuge, die zur Validierung & Verifizie-

Anwendung bis hin zur vollständig konfigurierbaren, auto-

rung eingesetzt werden. In der Konsequenz verzögern sich

matisierten Testumgebung. Dabei werden sowohl Werkzeu-

Projekte oder sehen sich sogar dem Scheitern gegenüber.

ge und Vorgehensweisen zur Bewältigung der gestiegenen Anforderungen als auch konkrete Lösungen von Kunden und Partnern vorgestellt.

MITTWOCH

11:30 – 18:00 Uhr

11:30 – 12:15 Automating Embedded Software Testing With TestStand, VeriStand, and DIAdem National Instruments 12:15 – 13:00 Optimierte Testabdeckung bei zeitlich limitierten Regressionstests mit TestStand Thomas Schmidhuber, MTU Friedrichshafen GmbH 13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 NI TestStand und ASAM-XIL in der Praxis Jürgen Dodek, MTU Friedrichshafen GmbH Philip Deppe, National Instruments 15:15 – 16:00 Implementierung eines CANopen Slave Custom Device für VeriStand zur Simulation /  Integrationstest von Schienenfahrzeugen Andreas Rzezacz, Voith Engineering Services GmbH Road & Rail 16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 17:15 Vollständige Automatisierung eines hochdynamischen Lenkungsprüfstands für realitätsnahe Prüfungen Marc Scherer, ITK Engineering AG 17:15 – 18:00 PowerTrain-Lösungen im automatisierten Laboreinsatz Peter Deckelmann, Armin Huber, Berghof Automation GmbH

DONNERSTAG

10:30 – 17:00 Uhr

10:30 – 11:15 Validierung von IGBT- und IGCTLeistungsmodulen mit einem FPGA-basierten LabVIEW-System Daniel Huang, Siemens AG 11:15 – 12:00 Skalierbare Hardware-in-the-Loop-Prüfstande für Energiemanagementsysteme Andreas Ebentheuer, Julian Taube, TU München Philip Deppe, National Instruments 12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 14:15 Werkzeugqualifikation für TestStand nach ISO 26262 Frank Heidemann, SET GmbH 14:15 – 15:00 Verification & Validation von A bis Z National Instruments 15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 16:15 Modular und automatisiert: praxisnahe Lösungen beim Testen nach der LV124 Ronald Kaempf, WKS Informatik GmbH 16:15 – 17:00 Closed Loop Control and Real-Time Simulation with VeriStand National Instruments

8 | Vortragsreihen

Embedded Control & Monitoring Der rasche Fortschritt des Internet of Things und der

Unternehmen gelangen an den Rand ihrer Kapazitäten. In

zunehmende Druck, mit weniger Budget immer mehr zu

der Vortragsreihe „Embedded Control & Monitoring” wird

erreichen, lassen neue Technologien heute schneller als

anhand von Anwendervorträgen und anschaulichen Bei-

jemals zuvor aus dem Boden wachsen. Darüber hinaus

spielen aus der Industrie erläutert, wie Sie in Ihrem Unter-

haben auch Kosten und Risiken bei der Erstellung qualitativ

nehmen aktuelle Herausforderungen meistern.

hochwertiger Embedded-Systeme zugenommen und viele

MITTWOCH

11:30 – 18:00 Uhr

11:30 – 12:15 FlexRIO in Embedded-Applikationen National Instruments 12:15 – 13:00 Wählen Sie die richtige Software-Architektur für Ihre Embedded-Applikation National Instruments 13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 FLIP – ein innovatives Messgerät auf Basis von NI CompactRIO zur Charakterisierung der Leberfunktion mittels Atemgasanalyse Axel Luchterhand, Alexander Helmke, Humedics GmbH 15:15 – 16:00 Integration des NI SOM zur flexiblen Datenerfassung, -aufbereitung und Gerätesteuerung in der Medizintechnik Thomas Derfuß, LEA Medizintechnik GmbH 16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 17:15 Software Monetization – die Technologie zum Schutz des intellektuellen Eigentums Aurelius Wosylus, Alexander Diepold, Gemalto GmbH 17:15 – 18:00 Getting the Most Out of Your NI Linux Real-Time Target National Instruments

DONNERSTAG

10:30 – 17:00 Uhr

10:30 – 11:15 Bildverarbeitung zur Bewertung und Steuerung nachgelagerter Prozesse Denise Zimmermann, Domenic Foerderer, ProNES Automation GmbH 11:15 – 12:00 Industrie 4.0 in der Praxis – Offene Automation mit LabVIEW und Open Core Engineering Andreas Winter, Bosch Rexroth AG Christian Fritz, National Instruments 12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 14:15 Design von Serienprodukten mit EmbeddedHardware Marco Schmid, Schmid Elektronik AG Manuel Hofmann, National Instruments 14:15 – 15:00 Entwicklung einer Biosensor-Plattform auf Basis des NI SOM Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH 15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 16:15 Condition Monitoring von Turbinen und Generatoren in Wasserkraftwerken auf Basis von NI-Hardware und LabVIEW Andreas Rzezacz, Holger Hochtritt, Voith Engineering Services GmbH Road & Rail 16:15 – 17:00 Anlagenstillstand verkürzen durch Online Condition Monitoring mit InsightCM National Instruments

Vortragsreihen | 9

Datenmanagement

Business Trends

DATENMANAGEMENT

BUSINESS TRENDS

Im Zeitalter von Big Analog Data arbeiten wir mit einer

Die Vision einer intelligenteren Welt, in der Systeme mit

stetig steigenden Relevanz von Daten, angefangen bei der

Sensoren und lokaler Intelligenz zum Austausch von Informa-

Messung über die Verwaltung bis hin zur Auswertung. In

tionen untereinander und mit Anwendern vernetzt sind, ist

der Vortragsreihe „Datenmanagement” beschäftigen wir

zum Greifen nah. Diese Vorstellung hat etliche Bezeichnun-

uns mit dieser Thematik, vor allem mit aktuellen Trends und

gen erhalten, am bekanntesten sind sicherlich das Internet of

technologischen Neuerungen. Anhand von praktischen

Things (IoT), das Industrial Internet of Things (IIoT) oder auch

Vorträgen aus der Industrie wird gezeigt, wie Lösungen

Industrie 4.0. Parallel dazu entwickelt sich aktuell ein weiterer

aussehen können.

Trend – die Maker-Bewegung. Maker auf der ganzen Welt inspirieren sich gegenseitig bei der Erstellung von smarten Geräten, Roboterspielereien, autonomen Drohnen und Wearables. Diese Innovationen sind nicht länger das Monopol millionenschwerer Unternehmen. Die Vortragsreihe Business Trends lädt zu diesen und anderen Themen ein und regt die Diskussion rund um den Beginn einer weiteren industriellen Revolution an.

MITTWOCH

11:30 – 18:00 Uhr

11:30 – 12:15 Big Analog Data – große Anforderungen smart gelöst National Instruments 12:15 – 13:00 DIAdem und DFSE – Highlights der aktuellen Versionen National Instruments 13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 Bridging „The Edge” – Unternehmensweite Daten- und Prozessintegration mit Hypertest, DataFinder und DIAdem Carsten Stein, Werum Software & Systems AG Stefan Romainczyk, National Instruments 15:15 – 16:00 Labordatenmanagement mit DIAdem Uwe Hein, Miele & Cie. KG Karl Finkl, a-solution GmbH 16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 17:15 Statistische Auswertung von End-of-Line-Tests Dr. Michael Röbel, Deutz AG Martin Winkler, measX GmbH & Co. KG 17:15–18:00

Vorsprung durch Wissen – Wertschöpfung durch Metainformationen in der Produktionstechnik Sven Goetz, Sascha Kamps, WZL RWTH Aachen

DONNERSTAG

10:30 – 17:00 Uhr

10:30 – 11:15 IIoT in Practice: The Power of Connected Measurements – From Insight into the Past to Vision of the Future Jaakko Ala-Paavola, CTO, Espotel 11:15 – 12:00 Industrie 4.0 vs. Industrial Internet Consortium Rahman Jamal, Global Technology & Marketing Director, National Instruments 12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 14:15 Technik richtig kommunizieren – Öffentlichkeitsarbeit als Erfolgsfaktor Günter Pröpster, Geschäftsführer, Gulf One GmbH 14:15 – 15:00 Prozessorientierte Konzerne treffen auf innovationsfreudige Gründer: Warum BMW und MakerSpace kooperieren Phill Handy, Geschäftsführer UnternehmerTUM MakerSpace GmbH Stephan Augustin, Forschung, Neue Technologien, Innovationen, BMW AG 15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 16:15 The World Is Ours to Make: The Impact of the Maker Movement Dave Wilson, Director Academic Marketing, National Instruments 16:15 – 17:00 Vom Maker zum erfolgreichen Start-Up – Das NI Technology Access Program Dr. Ralf Zeitler, VENNEOS GmbH Abdülkerim Dagli, Field Sales Engineer, National Instruments

10 | Vortragsreihen

Semiconductor Test

Workshops

SEMICONDUCTOR

WORKSHOPS*

Wenn jedes Gerät im kommerziellen und industriellen

Nutzen Sie unsere eineinhalbstündigen Workshops, um

Bereich mit mehr RFICs und MEMSs ausgestattet wird,

unterschiedliche Lösungsansätze mit Hard- und Software-

steigen die Möglichkeiten auf Verbesserungen in unserem

produkten von National Instruments kennenzulernen. Dank

Alltag sowie unserer Arbeitswelt ins Unendliche. Das Hinzu-

der ausgearbeiteten Übungen, die Sie eigenständig mit

fügen von weiteren Sensor- und RF-Tests zu bestehenden

NI-Hardware durchführen, und der Unterstützung durch

Prüfsystemen ist meist kostspielig und sehr zeitaufwendig.

unsere NI-Ingenieure setzen Sie in kürzester Zeit die vermit-

Das Produktkonzept kann dadurch buchstäblich wirtschaft-

telten Inhalte praktisch um.

lich nicht mehr rentabel sein. Automatisierte Testsysteme im Halbleitersektor sollen daher kosteneffizient und flexibel sein. Bei neuen Testanforderungen müssen getätigte Investitionen und eine optimale Testabdeckung gewahrt werden – am besten mit einer Messplattform, die vom Labor über die Charakterisierung bis in die Halbleiterproduktion eingesetzt wird. Diese Vortragsreihe zeigt in Anwender- und Technologievorträgen, welche Möglichkeiten existieren und welche Projekte bereits erfolgreich umgesetzt wurden.

MITTWOCH

11:30–18:00 Uhr

11:30 – 12:15 NI‘s Vision vom Halbleitertest National Instruments 12:15 – 13:00 Requirements Driven Verification Procedures using NI Semiconductor Test System Thomas Santer, Benjamin Maier, Infineon 13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 15:15 NI PXI system-based validation, characterization and debug of integrated circuits made in advanced semiconductor technologies Dr. Michael Otto, GLOBALFOUNDRIES 15:15 – 16:00 Automatisierte Produktcharakterisierung von magnetoresistiven Drehzahlsensoren Lennon Schlottke, NXP Semiconductors Germany GmbH Martin Müller, A.M.S. Software GmbH 16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 17:15 Qualifikation von Leistungshalbleitern in Bereichen von 2000 V und 1000 A Frank Heidemann, SET GmbH Bernhard Rennhofer, National Instruments 17:15 – 18:00 Fertigungsendtest für MEMS-Mikrofone Sebastian Walser, Hochschule München / EPCOS AG

MITTWOCH

11:30–18:00 Uhr

11:30 – 13:00 Erste Schritte mit PXISystemen National Instruments

LabVIEW-Quellcode­ verwaltung praktisch umsetzen National Instruments

13:00 – 14:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 14:30 – 16:00 Automatisierte Testsysteme auf Basis von PXI erstellen National Instruments

Ein neuer Designansatz für SDR National Instruments

16:00 – 16:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 16:30 – 18:00 Erste Schritte mit NI TestStand National Instruments

DONNERSTAG

Interaktives Daten­ management, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem National Instruments

10:30–17:00 Uhr

10:30 – 12:00 Einstieg in die industrielle Bild­ verarbeitung National Instruments

Implementierung von EchzeittestApplikationen mit NI VeriStand National Instruments

12:00 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung 13:30 – 15:00 Erste Schritte mit der RIO-Architektur National Instruments

Interaktives Daten­ management, Analyse und Berichterstellung mit NI DIAdem National Instruments

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 17:00 Einstieg in die FPGAProgrammierung National Instruments

Erste Schritte mit Daten­erfassungs­ systemen von NI National Instruments

* Die Plätze für die Workshops sind begrenzt. Für die Teilnahme ist eine separate Anmeldung erforderlich.

Ausstellung | 11

Ausstellung – Knüpfen Sie wichtige Kontakte Im Rahmen des VIP 2015 präsentieren rund 40 Alliance

DIAMOND AUSSTELLER

Partner, Produktpartner und Systemintegratoren ihre ak­tu­ ells­ten Anwendungen, Lösungen und Produkte. Informieren Sie sich auf der großzügigen Ausstellungs­

AUSSTELLERLISTE

fläche über die neuesten Entwicklungen und tauschen Sie

–– 6TL Engineering

sich mit den Ausstellern über deren Serviceangebote und

–– A.M.S. Software GmbH

Lösungsstrategien aus.

–– a-solution GmbH –– AED Engineering GmbH

Von der Erstellung eines einzelnen Produkts über ganze

–– AMC – Analytik & Messtechnik GmbH Chemnitz

Systeme und deren Integration bis hin zu Beratung

–– AMETEK GmbH – SOLATRON METROLOGY

und Training – VIP-Aussteller verfügen über die optimale

–– ATX Hardware GmbH West

Kombination von technischer Ausstattung und Know-

–– Beck-Messtechnik

how, um auch anspruchsvolle ingenieurtechnische Heraus-

–– beltronic Industrie PC AG

forderungen zu lösen.

–– Berghof Automationstechnik GmbH –– Bosch Rexroth AG

Unter anderem zeigen wir Ihnen Lösungen und Anwen-

–– CGS – Computer Gesteuerte Systeme GmbH

dungsbeispiele aus den Bereichen Hardware-in-the-Loop

–– COMSOFT GmbH

sowie Maschinenzustandsüberwachung und -steuerung.

–– DigiMetrix GmbH –– esz AG calibration & metrology –– Göpel electronic GmbH –– ingun Prüfmittelbau GmbH

9:00 – 19:00 Uhr DONNERSTAG 9:00 –  17:00 Uhr MITTWOCH

–– IRS Systementwicklung GmbH –– ITK Engineering AG –– Kistler Instrumente GmbH –– Konrad GmbH –– Linz Center of Mechatronics GmbH –– MAC Panel Company –– measX GmbH & Co. KG –– MicroNova AG –– National Instruments –– Noffz Technologies –– ProNES Automation GmbH –– S. E. A. Datentechnik GmbH –– Schmid Elektronik AG –– SET GmbH –– Sohatex GmbH –– SOMA GmbH –– SYSTEC GmbH –– The Peak Group –– VDE Verlag GmbH –– Virginia Panel Corporation –– Virinco AS –– Werum Software & Systems AG –– WKS Informatik GmbH –– XOn Software GmbH Stand: Juni 2015

12 | Academic Forum

Die Zukunft gestalten

KEYNOTE

9:00 – 10:30  Uhr 11:00–17:00 Uhr

VORTRAGSREIHEN 

AUSSTELLUNG

9:00 – 17:00  Uhr

Der dritte Tag des VIP-Kongresses ist erneut ein Tag speziell für Teilnehmer aus dem Bereich Lehre, Ausbildung und Forschung. Als Academic Forum integriert der ehemalige Dozenten- und Ausbildertag nun auch verstärkt den Forschungsbereich. Damit wird der Bogen von der praxisorientierten Lehre über studenti­ sche Projekte bis hin zur universitären Forschung gespannt. Wie gewohnt bietet das Academic Forum den Teilnehmern weiterhin eine optimale Plattform, um neue Trends, Technologien und Lehrinhalte zu diskutieren und sich mit Kollegen und Experten auszutauschen. An diesem Tag treffen innovative Produkte auf zukunftsweisende Lehrkonzepte. Werfen Sie einen Blick auf die Themen:

PRAXISORIENTIERTE LEHRE

WORKSHOPS

Verpassen Sie nicht, wie theoretische

Lernen Sie in unseren Workshops ers-

Themen – beispielsweise die Kennli-

te Schritte im Umgang mit NI-Produk-

nienaufzeichnung von elektronischen

ten und setzen Sie kleine Beispielan-

Bauteilen oder Grundlagen der Rege-

wendungen selbst um.

lungstechnik – anschaulich, praktisch und spannend präsentiert werden. Ziel

Versierte NI-Ingenieure vermitteln

dieser Vortragsreihe ist es, Ihnen eine

Ihnen den Einstieg in verschiedene

Vielzahl von didaktischen Konzepten,

NI-Technologien, die durch Live-De-

Projektideen und deren Umsetzung

monstrationen verdeutlicht werden.

sowie Lehrplankonzepte von Lehren-

Die entspannte Atmosphäre in kleiner

den vorzustellen. Nutzen Sie die Chan-

Runde erlaubt einen intensiven

ce zur Inspiration und zum Gedanken-

Austausch zwischen Zuhörern und

austausch mit und unter Kollegen.

NI-Experten. Erstmalig können Sie neben den Pro-

FORSCHUNG UND

dukten für Lehre und Ausbildung auch

LABORVERSUCHE

Industrieprodukte für die Forschung

Neu und innovativ – der nahtlose

evaluieren.

Übergang von der Lehre zur Forschung ist ein Kernanliegen von National Instruments. Wie dieser Übergang gelingt und wie Forschungsprojekte mit Hard- und Software von NI verwirklicht werden, zeigt dieser Track. Dabei decken wir Forschungsbereiche von Automatisierungstechnik bis hin zu Software Defined Radio ab.

Academic Forum | 13

FREITAG

11:00 – 17:00 Uhr

Praxisorientierte Lehre 11:00 – 11:45 Modelbasierte Simulation und experimentelle Anwendung von mechatronischen Systemen in der Lehre in Verbindung mit myRIO und Model Interface Toolkit Jochen Theis, FH Aachen

Forschung und Laborversuche 11:00 – 11:45 Modul zur Unterdrückung von Störsignalen für globale Navigationssysteme mit NI SDRs Thomas Kraus, Stefan Sailer, Universität der Bundeswehr München

11:45 – 12:30 Kennlinienaufnahme mit dem NI myDAQ als Live-Experiment im Unterricht Prof. Georg Eggers, HS München

11:45 – 12:30 Entwicklung einer Automatisierungslösung zum Steuern einer Vier-Quadranten-Leitungsbremse mit 250 kW auf Basis eines cRIO-9074 Norbert Schmotz, Universität Rostock

12:30 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung

12:30 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung

13:30 – 14:15 Praxisorientierte Lehre – Beispiele für die Einbindung von Versuchsaufbauten in die regelungstechnische Ausbildung unter Nutzung von NI-Hardware und Software Prof. Steven Lambeck, FH Fulda

13:30 – 14:15 Fiber-optical observation of the material behaviour of a natural stone specimen under local load Klaus Weraneck, TU München

14:15 – 15:00 Praktikumsversuch CW / FMCW Radar auf Basis von myRIO Markus Gardill, FAU Erlangen-Nürnberg

14:15 – 15:00 Implementierung modellbasierter prädiktiver Regelungsansätze für ein Dreitanksystem in LabVIEW Tarek Aissa. FH Fulda

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung

15:30 – 16:15 Kooperation ifm syntron & HMS im Praktikum zur Vorlesung LabVIEW an der HS RavensburgWeingarten Philipp Hohl, ifm syntron GmbH

15:30 – 16:15 Entwicklung eines Datenerfassungssystems zur Messung und Kontrolle des Sauerstoffpartialdrucks in der Festkörpersynthese Felix Seibel, Dr. Paolo Sereni, Universität Salzburg

16:15 – 17:00 Labview Academy Podiumsdiskussion Moderation Tomasz Kachnic, National Instruments

16:15 – 17:00 Entwicklung und Regelung eines hydraulischen Biegeprüfstands Vinzent Schmid, OTH Regensburg

Workshops* 11:00 – 12:30 Erste Schritte mit Datenerfassungssystemen von NI National Instruments

11:00 – 12:30 Implementierung von Echzeit-Testapplikationen mit NI VeriStand und myRIO National Instruments

12:30 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung

12:30 – 13:30 Mittagspause / Besuch der Ausstellung

13:30 – 15:00 NI myRIO – Teil 1: Einführung in EmbeddedSysteme in der Lehre National Instruments

13:30 – 15:00 Einstieg in die FPGA-Programmierung National Instruments

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 17:00 NI myRIO – Teil 2: Steuerung und Regelung mit dem QUANSER Cube National Instruments

15:00 – 15:30 Kaffeepause / Besuch der Ausstellung 15:30 – 17:00 LabVIEW-Quellcodeverwaltung praktisch umsetzen National Instruments * Die Plätze für die Workshops sind begrenzt. Für die Teilnahme ist eine separate Anmeldung erforderlich.

14 | Specials

Get-together – Feiern Sie mit uns 20 Jahre VIP Lassen Sie sich das exklusive Get-together unseres 20-jährigen Kongressjubiläums nicht entgehen! Der Ideenaustausch sowie das Knüpfen von Kontakten stehen im Mittelpunkt des gemütlichen Ausklangs des ersten Kongresstages. Dieser wird mit einem gemeinsamen Abendessen zu Ende gehen und bietet Ihnen die Möglichkeit zum ungezwungen Networking mit Referenten, Ausstellern, NI-Experten und anderen Kongressteilnehmern. In Anschluss daran sind Sie herzlich zur Jubiläums-Party eingeladen um den Kongresstag in entspannter Atmosphäre abzurunden.

MITTWOCH

ab 18:00 Uhr

CLAD-Zertifizierung Ihr Know-how – von Experten bescheinigt

Medienpartner

Im Rahmen des VIP 2015 haben Sie die Gelegenheit, kostenfrei an der Zertifizierung zum Certified LabVIEW Associate Developer (CLAD) teilzunehmen. Sollte Ihre CLAD-Zertifizierung bald ablaufen, können Sie sich kostenfrei rezerti­fizieren lassen. Die Zertifizierungen von National Instruments unterstreichen Ihre technischen Kenntnisse und Fähigkeiten. Mit der CLAD-Zertifizierung verfügen Sie über einen industrieweit anerkannten Qualitätsnachweis und eine hervor­ragende Referenz. Nutzen Sie diese Chance – und sichern Sie sich das Rüstzeug für Ihre nächsten großen Herausforderungen!

16:30 – 17:30 Uhr FREITAG 16:00 – 17:00 Uhr DONNERSTAG

WARUM

40+ AUSSTELLER

RUND 120 VORTRÄGE

INNOVATIONEN UND NETWORKING

Anmeldung und Services | 15

ANMELDUNG UND SERVICES

PREISE

ANMELDEBEDINGUNGEN

VIP-Kongress

Das Anmeldeformular finden Sie online unter ni.com/vip

Tickets 21. – 22. Oktober 2015

€ 465* | € 520** | € 575

(inkl. Abendveranstaltung)

Die Anmeldungen werden der Reihenfolge nach berücksichtigt. Wir empfehlen Ihnen eine frühzeitige Anmeldung.

21. Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung)

€ 395

22. Oktober 2015

€ 335 RÜCKTRITTSBEDINGUNGEN

Gruppenticket (4 für 3)

Die Abmeldung von dieser Veranstaltung muss National

21. – 22. Oktober 2015

€ 1395* | € 1560** | € 1725

(inkl. Abendveranstaltung)

Instruments schriftlich mitgeteilt werden. Es gelten folgende Rücktrittsbedingungen: –– Bei Rücktritt bis zum 3. September 2015 wird eine Storno-

Hochschultickets

gebühr von 50 Euro zzgl. Mehrwertsteuer erhoben.

21. – 22. Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung)

€ 300

21. Oktober 2015 (inkl. Abendveranstaltung)

€ 200

22. Oktober 2015

€ 200

–– Bei Rücktritt ab 4. September 2015 beträgt die Storno­ gebühr 100 % der Teilnahmegebühr. –– Gerne akzeptieren wir einen Ersatzteilnehmer. Bitte teilen Sie uns dies in schriftlicher Form mit.

Academic Forum Tagesticket

Haben Sie Fragen zur Anmeldung?

23. Oktober 2015

kostenfrei

Wir helfen Ihnen gerne weiter. Bitte wenden Sie sich an Andrea Schütze unter Tel. +49 (0) 89 741313-121 oder

Alle Preise in Euro zzgl. Mehrwertsteuer * Frühbuchertarif 1 bis einschließlich 31. Juli 2015 ** Frühbuchertarif 2 bis einschließlich 18. September 2015 Gruppenticket: Die Teilnehmer müssen der gleichen Firma angehören. Hochschultarif: Gilt für alle Hochschulangehörigen und Studenten.

senden Sie eine E-Mail an [email protected].

DIE VIP-2015-SERVICES – WIR SIND FÜR SIE DA! Hotels Empfehlungen und vorab reservierte Kontingente unter:

LEISTUNGEN

germany.ni.com/vip/hotels

Mit der Buchung des Kongresspasses erhält der Teilnehmer die Berechtigung zur Teilnahme am VIP-Kongress 2015

Bus-Shuttle

für die Anzahl der gebuchten Kongresstage. Die Kongress­

–– von ausgewählten Hotels am Morgen

teilnahme beinhaltet folgende Leistungen: –– Keynotes und Fachvorträge –– Tagungsband

(21./22. Oktober 2015) zum Veranstaltungsort und abends nach der Party zurück –– vom Flughafen München zum Veranstaltungsort:

–– Zutritt zur Ausstellung

21. Oktober 2015 – Abfahrt 08:30 Uhr

–– Abendveranstaltung bei Teilnahme am 21. Oktober 2015 –– Tägliches Lunchbuffet und zwei Kaffeepausen inkl.

–– vom Veranstaltungsort zum Flughafen München: 22. Oktober 2015 – Abfahrt 17:15 Uhr

Getränke

ANWENDERLÖSUNGEN

INDUSTRIETRENDS

MEET THE EXPERTS

FRÜHBUCHERTARIFE Eine schnelle Anmeldung wird belohnt: sichern Sie sich bis 31. Juli bzw. 18. September 2015 unsere Frühbucherrabatte.

VERANSTALTUNGSORT

VERANSTALTER

Veranstaltungsforum Fürstenfeld

National Instruments Germany GmbH

Fürstenfeld 12

Ganghoferstraße 70 b

82256 Fürstenfeldbruck

80339 München

bei München fuerstenfeld.de

Tel.: +49 (0) 89 7413130 Fax: +49 (0) 89 7146035 [email protected]

ni.com/vip ni.com/academicforum

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